试验样品数量和试验时间的确定

试验样品数量和试验时间的确定

样品数置的确定

任何一种设备的可靠性试验都有一个总试验台时数（或试验次数）的要求，这是由试验 设计者设计或选择的统计试验方案决定的。哪一种设备或哪一种试验类型所需样品数量无需 规定。可以根据样品母体数量，允许试验时间，试验设备及试验人力的安排等情况，综合考 虑选择合适的样品数量。当然希望数量不要太少，以便于试验结果能以较髙的置信度反映成 批设备的可靠性水平。

目前各类电子设备进行可靠性试验时，一般都假设产品失效随时间的分布规率（或称可 靠度函数）是符合指数分布规律的，采用指数分布的统计试验方案及判决标准。由于元器件 质量和可靠性水平较低，元器件厂及整机厂还没有完全有效地剔除早期失效，而早期失效 的存在和剔除的程度不等又直接影晌到试验结果。因此在市场竞争剧烈及有关政府部门要考 核的情况下，人们根据需要经常考虑到试验样品数量多少的影响。但是，应该指出，假设设 备是在偶然失效区工作，在设备样品数量有一定代表性的前提下，数量多少对试验结果不会 产生实质性影响。当然在制定“标准”时情况又不一样，一般都应有一个统一的要求。美国 的MIL—STD—78iC标准中对鉴定试验的样品数量没有规定，由生产方和使用方协商在合同 中予以规定3对验收试验的榉品数i规定不得少于3台。推荐样品数量是每批设备的10%, 最多不超过20台。我国电子工业部标准“电子设备可靠性试验的一般要求”（SJ2166—82 ) 中规定鉴定试验的样品数量不少于两台，验收试验的样品数量不少于3台。对于试验样品数 量的上限数没有规定。因为SJ2166—82不仅指导军用产品的可靠性试验，还要指导象电视 机、收音机等民用电子设备的可靠性试验，这些设备的MTBF都比较髙，每次试验要求的总 试验时间比较多，规定的数量少了，试验时间太长，给试验工作的管理带来很大困难。再说 各类电子设备的要求不一样，生产批量及连续性程度也不一样，要统一规定一个上限数量 是比较困难的。因此SJ2166—82没有规定样品数量的上限数。关于批次的定义，一般规定一 个月的产量为一批，当每月产量不足三台时，可以两月或两月以上的产量组成一批再进行 柚。一般国内外的有关标准资料都是这样规定的。

 试验时间的确定

不同的试验方案有不同的确定甙验时间的方法。但是，无论哪一种试验事先都应该确定 一个总试验时间，以便拟定试验计划，组织人力物力及试验费用的预计等。采用序贯试验方 案时，试验时间应根据允许试验时间来设计。所谓允许时间就是序贯截尾试验方案 的截尾时间。而不应按照预期判决时间来设计。所谓预期判决时间就是每个序贯试验的判决 图上有一个MTBF = 0。的预期判决点所对应的试验时间（^的倍数）。这样可以将试验费 用及试验时间控制在计划之内，避免无计划，不能控制的现象发生。采用定时截尾试验方案 时，试验到总的设备小时数及总的设备失效数均能按规定的试验方案作出接收或拒收判决时 就可截止。就是说试验到截尾时间，按试验方案的判决标准作判决，或者说试验到出现的失 效数已经超过接收的标准，可以作出拒收判决时，而且不需要对这次试验的MTBF验证值作 出估计，则试验可以停止，对设备作出拒收判决。无需一定要试验到截尾的总设备小时数为 止。对佥数可靠性验收试验，试验需一直进行到作出拒收判决或每台设备都做到规定的试验 时间才截止。

应该采用设备累积试验时间来确定试验时间的长短及确定是否与判决标准相符。理由很 简单，因为电应力仅仅是影响设备可靠性的一种因素，有时设备处于不通电工作承受应力状 态，例如降温时关机，髙低温贮存等，也同样影响设备可靠性，所以应采用累积试验时间来 与判决标准比较看设备是否合格。但是在计算MTBF值时,设备不通电工作受试时间不算,必 须根据设备开机工作的受试时间来计算。理由也很简单，囪为国家标准对MTBF的定义就是 平均无故障工作时间，强调的是工作时间，所以设备不工作的时间不能用来计算MTBF值。

随着可靠性试验技术的不断发展和不断进步，试验技术应能保证地记录试验时间。 一个完整的试验方案应对监控仪表和装置，以及估计MTBF的方法作出具体规定。为了防止 某个质量不稳定的设备的失效得不到及时修理和及时的投入试验，为了使实际的总试验时间 更接近统计试验方案所要求的总试验时间，以便提高判决的程度，国外有关标准都规定 每台受试设备的试验时间至少应为所有受试设备平均工作时间的一半。如果这个要求得不到 满足，一般使用方对试验的有效性就要提出疑议，甚至拒收设备。