冷热冲击试验箱主要电路介绍

冷热冲击试验箱主要电路介绍

  冷热冲击试验箱电路分析。振荡电路提供微处理器时钟基准信号 ,振荡信号的频率是 4 .19MHz。用示波器测量 14脚 ,可以看到 4 .19MHz的正弦波。时钟电路是由晶体 NT及两个电容、+ 5V直流电源等组成并联谐振电路 ,与单片机内部振荡电路相连。其内部电路以一定频率自激振荡 ,为单片机工作提供时钟脉冲。故障分析。如果 NT损坏或者振荡电路中某一元件损坏 ,就不能给 CPU提供时钟脉冲 , CPU将不能工作 ,整机处于保护状态。

冷热冲击试验箱复位电路

电路分析。主芯片 CPU75028的 ( 13 )脚为复位电平检测脚 ,低电平使复位有效。正常工作时为高电平 ,其工作原理如下 :

1、复位工作状态。当电路中 A点电位低于 3 .9V时 , ZD1处于截止状态 , B点电位为 0V ,则 T2处于截止状态 ,而 T1则因 Ube> 0 .7V ,饱和导通 ,输入主芯片第 ( 13 )脚的电位为低电平 ,进行复位。每次上电时 ,当电源电压处于 0 .7～3 .9V之间时 ,则 (13 )脚为低电平进行复位清零。当电源电压偏低 (低于 3 .9V)时 ,则主芯片 ( 13)脚为低电平 ,强行复位 ,单片机停止工作。

2、正常工作状态。当电路中 A点电位为正常值 5V时 ,硅稳压管 ZD1导通 , B点电位高于 0 .7V ,则 T2处于饱和状态 ,将 T1的基极电位钳制在低电位 ,使 T1处于截止状态 ,主芯片的第 (13 )脚则为高电平 ,机器正常工作。

3、冷热冲击试验箱主要元器件作用。

①当 T1、T2三极管损坏 ,稳压二极管 ZD1损坏 ,复位电路不工作 ,整机工作不正常。

②当电阻开路或电容漏电 ,复位电路均无法正常工作 ,整机工作失常。

③ R14、C25为 MC34064外围辅助元器件。

4、主要元器件作用。

① 3PIN为光敏三极管 ,如其损坏 ,无法接收红外遥控脉冲。

② R13为限流电阻 ,如果出现开路故障 , ( 35)脚接收不到遥控脉冲。

③ C19为抗干扰电容 ,如其短路时 ,所接收遥控脉冲对地短路。

冷热冲击试验箱温度检测电路

 1、电路图分析 ( TA指室内环境温度 , TC指蒸发器管温度 )。当温度改变时 , TA、TC温度传感器阻值也随之改变 ,通过 R32、R27电阻分压后输入主 IC(75028) , ( 24)脚、(25)脚电压也随之改变 ,从而完成由温度信号向电压信号转变的过程 ,实现温度的检测。

2、主要元器件作用。当 TA、TC开路或短路时会使输入至 IC(24)、(25 )脚电压不正常。另外 , R32、R27开路 ,会使 ( 24)、(25 )脚电压变为高电平。R11、R12开路 , C15、C16短路 ,会使 (24)、( 25)脚电位变为 0V ,造成整机保护性停机。当 TA、TC特性不好时 ,会造成主 IC输入电压不正常 ,也会造成风速不可调、不停机等故障。

3、TA和 TC的测量。①由于室温与管温传感器电阻特性完全一样 ,所以判断 TA和 TC好坏最简单的方法就是比较法 :将 TA和 TC从主控板取下 ,15秒钟后分别测量其电阻值 ,相差不应超过 8 % ,否则其中必有个是坏的。②也可通过测量在不同温度下的电阻值进行判断 ,其阻值变化情况详见元器件关于温度传感器部分。

冷热冲击试验箱过零检测电路 

1、电路图分析。D1和 D2组成全波整流电路在变压器次级取出电压信号 ,经过 R20、R22、R21、C24滤波后输入三极管反相器N4 ,功过 N4的驱动 ,改变输入到主 IC(34)脚的电位。

2、工作原理。电源频率为 50Hz～ 60Hz ,变压器次级也为50Hz～60Hz。当交流流过零点时 , D1、D2处于截止状态 , N4输入为低电位 ,输出为高电位 , IC( 34 )脚为高电位。通过电压周期计算大约在 0 .007S～ 0 .01S时间内 ,主 IC要检测到一个高电平 ,即检测到一个过零点 ,否则电源频率太大或太小。

3、主要元器件作用。当 D1、D2损坏 , R20开路 , C24击穿 , N4工作不良时 ,会造成检测不到过零点 ,将会使内风机工作不正常 ,出现整机不工作现象。