什么是可靠性试验？
电子元器件的可靠性指标通常采用失效率（X )来表示。而对电子设备而言，除特种设 备外，一般是可以修复的，其可靠性指标往往用平均无故障工作时间（MTBF )来表示。电 子产品的可靠性指标不同千产品的电气性能指标，它有时间性、综合性和统计性等特点，它 不能象电气性能指标那样直接用仪器仪表测量。一般是通过下面两种途径获得：
一种是产品在现场使用的累积时间和累积失效数，经数理统计方法处理获得。这种数据 叫产品现场使用可靠性的统计平均值。或者是有计.划有目的将产品放在现场使用的典型条件 下工作一个规定的时间，根据累积工作时间和累积失效数经数理统计方法处理获得。这种数据叫产品现场可靠性试验验证值。获得产品现场可靠性试验验证值的方法叫现场可靠性试 验.另一种是通过在实验室里进行可靠性试验的方法获得产品的可靠性指标。这种方法是在 实验室里用一种规定的及受控的工作条件及环境条件，模拟现场的使用条件，模拟产品在现 场所遇到的环境应力进行试验，将累积试验时间和累积失效数经数理统计方法处理获得。这 种数据叫产品可靠性试验的验证值。
因此，对“什么是可靠性试验”的理解，可以简单地说，为评价分析产品的可靠性而进 行的试验，就叫可靠性试验。也可以定义为：在试验室里，用模拟现场工作条件和环境条件 进行试验，借以确定设备可靠性的方法，就叫做可靠性试验。除特别注明外，通常所称的可 靠性试验，就是指这种室内的模拟可靠性试验。
这里应该特别指出，电子元器件的可靠性试验方法和要求与电子设备的可靠性试验方法 和要求是不完全一样的。对电子元器件的可靠性试验来说，既包含有模拟现场使用条件的一 般失效率试验，又包含有大应力强度的加速寿命试验。而对电子设备而言，则是指模拟现场 工作条件和环境条件而进行的可靠性试验，这在第二篇和第三篇中将分别进行详细的阐述。
广义而言，每种试验（包括环境试验、例行试验、筛选试验、可靠性试验等）的最终目 的都是为了提髙产品质量，每当观察到失效时，都要认真记录和进行深入细致的失效机理分 析，进行质量反馈。所以，任何与故障或故障效应有关的试验都可认为是可靠性试验
